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型號：

JCI-155v6靜電衰減分析儀

描述：JCI-155v6靜電衰減分析儀美國國家航空和宇宙航行局（NASA）采用產(chǎn)品
IEC61340-2-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的模板設(shè)備

  • 廠商性質(zhì)

    經(jīng)銷商

  • 更新時間

    2017-01-07

  • 訪問量

    1622
詳細(xì)介紹

 

  • 美國國家航空和宇宙航行局（NASA）采用產(chǎn)品

  • IEC61340-2-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的模板設(shè)備

  • 可以測試固體，粉體，液體材料的靜電衰減時間

  • 同時測試靜電衰減時間和電容負(fù)載

  • 可直接放置在成型材料上測試

  • 量程：10毫秒-99小時

  • 分辨率：10毫秒

  • 電暈放電電壓：0-9.9KV（可以選擇正負(fù)極性）

  • 衰減比例：可設(shè)置1%-99%

  • 同時測量環(huán)境溫濕度

  • 特別設(shè)計氣閘效應(yīng)，消除殘留空氣離子干擾

  • 高精度靜電壓測試探頭

  • 配套JCI176樣品臺可測量轉(zhuǎn)移到測試料樣上的電量，并計算出電容負(fù)載

  • 配套JCI173樣品杯可以測量粉體和液體的靜電衰減期

  • 配套JCI-Graph軟件遠(yuǎn)端控制儀器，顯示數(shù)據(jù)和衰減曲線，形成報告，分析/打印/儲存數(shù)據(jù)。

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